老化測試系統

產品簡介：

SD2000老化測試系統提供對MCU、CPU、CPLD、FPGA、大容量存儲器等超大規模集成電路的高低溫動態老化測試，將老化與電參數測試結合，在老化過程中可測試不同溫度區間器件的電參數特性。

產品型號：SD2000

更新時間：2024-11-19

廠商性質：代理商

訪問量：988

服務熱線

4006981718

立即咨詢

產品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

暖通環保

風速風向儀風機性能測試裝置風洞裝置環境監測儀器便攜式氣質聯用儀測距儀定位儀功率計風速儀照度計探頭傳感器變送器相序表防潮箱示波器超聲波探傷儀激光對中儀射線儀器轉速儀數顯儀照度儀望遠鏡電導率計檢測儀記錄儀計數器絕緣電阻測試儀控制器報警儀發生器動態校準儀分析儀在線監測系統多參數水質分析探頭水質自動監測系統水質在線自動分析儀轉換器粉塵儀采樣探頭濕度儀監測儀揮發性有機物在線分析儀氨逃逸在線監測系統煙氣排放連續監測系統煙氣分析儀紅外熱像儀可燃氣體檢測儀不透光度計汽車尾氣分析儀標準測量天線電磁波測試計微波漏能儀場強儀風量罩

產品介紹

產品描述

老化測試系統

SD2000老化測試系統提供對MCU、CPU、CPLD、FPGA、大容量存儲器等超大規模集成電路的高低溫動態老化測試，將老化與電參數測試結合，在老化過程中可測試不同溫度區間器件的電參數特性。

基本特點:

1. 老化測試系統單板128路雙向I/O通道，共用8個時鐘邊沿（6個驅動邊沿，2個比較邊沿）
2. 1Mbit/通道圖形深度，失效存儲深度1kbit/通道，只存失效
3. 支持圖形向量微指令
4. 單板4通道PMU，提供 FV,FI,MV,MI功能，電壓范圍-3V~+12V；電流范圍-80mA~+80mA
5. 數字通道驅動電壓范圍-3V~+12V；比較電壓范圍-3V~+12V
6. 數量可配置程控電源，可提供0.5~5V 30A 0.5~ 3.3 30A 3-24V 等
7. 提供各老化試驗區電壓、電流測試
8. 128個輸出控制繼電器
9. 試驗溫度范圍：5℃～150℃；溫度均勻度±3℃
10.RJ45網口數據傳輸與控制
11.高溫老化試驗箱分16個區域，支持同時老化測試16種不同類型、不同封裝形式的器件
12.系統提供電源過壓、過流和短路保護

上一個：SD1000老化測試系統

返回列表

下一個：SD6100射頻測試系統

在線留言

ONLINE MESSAGE

在線客服

聯系方式

4006981718

（全國服務熱線）

北京市大興區金苑路32號709

312878821@qq.com

掃碼加微信

技術支持：化工儀器網管理登錄 sitemap.xml

SD2000老化測試系統提供對MCU、CPU、CPLD、FPGA、大容量存儲器等超大規模集成電路的高低溫動態老化測試，將老化與電參數測試結合，在老化過程中可測試不同溫度區間器件的電參數特性。

產品描述

基本特點:

留言框

產品：

您的單位：

您的姓名：

聯系電話：

常用郵箱：

省份：

詳細地址：

補充說明：

驗證碼：