高靈敏度能量色散X射線熒光光譜儀原理：依賴全聚焦型雙曲面彎晶技術實現X射線光管出射譜單色化聚焦激發樣品，降低X射線管散射線背景干擾，大幅降低元素檢出限，達到對樣品中痕量元素分析能力；

一、 核心技術綜述

高靈敏度能量色散X射線熒光光譜儀（HS XRF®）

     全聚焦雙曲面彎晶衍射X射線管出射譜中高強特征X射線，將X射線光管出射譜單色化并聚焦入射到樣品一點，因此從樣品出射的X射線除了樣品中的元素被激發產生的熒光X射線和單色化入射譜線的散射線外，不存在X射線管韌致輻射所引起的連續散射背景，從而大幅降低元素熒光射線的散射線背景。

單波長激發-能量色散X射線熒光光譜儀與當前*的硅漂移探測器（SDD）是天作之合，硅漂移探測器計數率最高達到100萬CPS，所探測樣品熒光射線的立體角也受到接受晶體面積的限制，單波長聚焦激發降低入射射線背景射線強度的同時，又聚焦激發，提升SDD探測的樣品元素熒光射線立體角，大幅提升元素熒光射線信噪比。

單波長激發-能量色散X射線熒光光譜儀將元素檢出限降低至亞ppm水平，從而滿足微量和痕量元素分析需求。

1) 快速基本參數法（Fast FP^®）與*數學模型（Advanced mathematical models縮寫為Advanced MM）

      XRF法面臨的難題是基體效應、元素間吸收-增強效應、標準樣品欠缺等問題，從而對于不同類型樣品的定量分析帶來挑戰。

       快速基本參數法（Fast FP^®）通過對X射線熒光光譜從產生到探測的各個環節進行計算，將物理學明確的物理現象建立相應的數學模型，基本參數法消除了由于不同類型樣品基體差異所產生的背景差異，減少分析誤差，通過少數標準品的校正即可得到元素精確定量分析結果。

安科慧生歷經十幾年的積累，成功將快速基本參數法與*數學模型應用于XRF定量分析中，極大提升元素定量精度和樣品適應性。

一、 高靈敏度能量色散X射線熒光光譜儀工作條件

電源：220V±5%，50Hz±1% ；室內溫度：15-35℃；

相對濕度：≤85%；地線：接地電阻≤4Ω

三、主要技術指標

1、原理：依賴全聚焦型雙曲面彎晶技術實現X射線光管出射譜單色化聚焦激發樣品，降低X射線管散射線背景干擾，大幅降低元素檢出限，達到對樣品中痕量元素分析能力；

2、光源系統：全聚焦型雙曲面彎晶技術，單色化聚焦入射樣品；

3、X射線管：微焦斑X射線光管，最大功率<12W，最大激發電壓<70KV；

4、樣品口：最大樣品直徑30mm，具有自旋裝置，可以減少由于樣品不均勻造成的分析誤差；自動開關蓋設計，軟件控制；

5、探測器：硅漂移探測器，窗口面積≥50mm2能量分辨率優于139eV@Mn Kα，最大計數率＞1000Kcps；

6、射線安全：樣品蓋與光管高壓電源聯動，具有自動鎖定功能，儀器周圍與環境背景一致；

7、氣氛保護：可以加氫氣或氦氣氣氛保護系統，提升輕元素檢出能力；

8、具備無標定量分析能力，基本參數法與*數學模型定量精度：主量元素1%-90%，相對誤差±10%；雜質元素0.01%-1%，相對誤差±15%；微量元素0.0001%-0.01%，相對誤差±20%；

9、可以依賴標準物質建立校準曲線，實現更精確定量能力；

10、元素分析范圍：Na-U

11、 檢出限：S/Cl LOD=10mg/kg，Pb/As LOD=0.07mg/kg，Cd LOD=0.06mg/kg

（水基體，元素分析時間300秒）

12、重復性：Pb/As/Cd 1=5.0mg/kg RSD＜5%

（土壤基體，元素分析時間300秒，連續分析7次）